1- دانشگاه آزاد اسلامی ، layadejam@gmail.com
2- دانشگاه آزاد اسلامی
چکیده: (1254 مشاهده)
لایه های نازک اکسیدروی خالص و آلایش یافته با مس توسط کندوپاش مغناطیسی فرکانس رادیویی تهیه شد. ویژگیهای ساختاری و اپتیکی این لایه های نازک به کمک تکنیک های مشخصه یابی پراش اشعه ایکس ، میکروسکوپ نیروی اتمی ، طیف سنج نوری ، فوتولومینسانس مورد بررسی قرار گرفت. لایه های نازک اکسیدروی نقصهای کریستالی و میکرو تنشهای را در شبکه کریستالی نشان دادند. بازپخت لایه اکسیدروی آلایش یافته با مس3 اندازه کریستالی را در جهت بلوری (002) افزایش داد . پارامتر شبکه c در ساختار هگزاگنال به دلیل تطبیق اتم های مس در موقعیت های تعادلی کاهش یافت. بازپخت لایه اکسیدروی آلایش یافته با مس3 شدت پیک فوتولومینسانس8 را افزایش داد و آلایش مس در ساختار کریستالی لایه های نازک اکسیدروی باعث ایجاد نشر نور سبز در 530 نانومتر گردید.
ZnO
Cu:ZnO(CZO)
Radio Frequency
XRD(X-ray diffraction)
AFM (Atomic Force Microscopy)
Spectrophotometer
نوع مطالعه:
پژوهشي |
موضوع مقاله:
نانو مواد دریافت: 1400/12/1 | پذیرش: 1401/5/10